Мы можем показать вам внутреннюю структуру вашего образца с разрешением до 50 нм без его разрушения.

Современные рентгеновские микроскопы XRADIA (XRM) для компьютерной томографии (КТ) помогают продвигать инновации в науке и промышленности. Технология может использоваться для многих целей: оптимизация процессов в полупроводниках и анализ неисправностей, медико-биологические разработки, экономическая целесообразность нефтегазодобычи и предварительный анализ материалов.

Технология Xradia XRM использовалась учеными и инженерами для проникновения в формате 3D во внутреннюю структуру образцов в самых разных областях применения. Возможность визуализации в трехмерной форме субмикронных характеристик образцов размером до 50 нм в полном объеме без необходимости вырезать и делить образцы на части и выполнять сложную интеграцию двумерных изображений привлекательна для исследователей, и во многих случаях это играет важнейшую роль в выполнении задач по обработке изображений.

Поскольку применение продуктов Xradia занимает ведущие позиции во многих областях исследований и разработок, мы оптимизировали наши решения в нескольких основных областях, предоставляя полную крупномасштабную альтернативу для отображения образцов из мезо- в микро- и наноразмерную шкалу. В сфере медико-биологических разработок Xradia VersaXRM позволяет визуализировать твердые и мягкие ткани с непревзойденной комбинацией разрешения и размера образца. Наша авторская технология обнаружения и метод фазового контраста обеспечивают уникальную способность отображения мягких тканей с очень хорошим контрастом даже в сочетании с кальцинированными тканевыми и костными структурами.

В исследованиях и разработках в области материаловедения наше крупномасштабное решение позволит вам создать полную модель вашего материала размером от миллиметра до 50 нм. Вы сможете визуализировать внутреннее распределение фаз на этом уровне, а также дефекты материала, такие как трещины и пустоты.