Atomspēka mikroskopi 2018-08-13T05:01:08+00:00

Project Description

Atomspēka mikroskopi

Park Systems ir vadošais nanotehnoloģijas risinājumu partneris visprecīzākajiem AFM rezultātiem. Tas vada jauno AFM nanometroloģijas ēru. PARK oriģinālie un inovatīvie AFM risinājumi ļauj izmantot atomspēku mikroskopus visizaicinošākajām nanomēroga izpētes un industriālās produkcijas problēmām.

Pasaulē precīzākais atomspēku mikroskops (AFM) Park Systems NX10

Iegūto rezultātu precizitāte ir pats svarīgākais aspekts nanotehnoloģiju pētniekiem, jo iegūto datu ticamība ir atkarīga no mērījumu precizitātes. NX10, pasaulē precīzākais AFM, ir vadošā no Park Systems jaunajā AFM produktu līnijā esošajām iekārtām, ar mūsdienīgiem risinājumiem. NX10 sniedz nepārspējamu attēlu precizitāti, skenēšanas ātrumu un paraugu nesagraujošu tehnoloģiju, kas apvienota lietotājam pieejamā cenā. Iekārtā apvienots jauns lietotāja interfeiss, kas pārsteidz ar ērtu un vieglu lietošanu, kā arī tehniskie risinājumi, kas iekļauj metāla detaļas, lai samazinātu temperatūras svārstības un rezultātu precizitāti.

Galvenās iekārtas priekšrocības:

  • 2D virsmas XY detektors, ar 50 µm x 50 µm skanēšanas laukumu

  • Augsta ātruma Z ass detektors ar 15 µm skanēšanas biezumu

  • XYZ pozīcijas sensors virsmas topogrāfijas noteikšanai

  • Automatizēta XY paraugu platforma

  • Pieslēgvieta citiem SPM režīmiem un opcijām

  • Paraugu turētājs ar ērtu piekļūšanu

  • Augstas izšķirtspējas CCD

  • Integrēts LED apgaismojums

  • Tieša, uz ass novietota, augstas enerģijas optika ātrai attēla iegūšanai

Precīza AFM attēlu veidošana izmantojot ‘’Crosstalk Elimination’’ režīmu
• Industrijā vadošie XYZ detektori, lineārai paraugu detektēšanai ar 2 dažādiem virsmas detektoriem
• Ļoti augsta izšķirtspēja XY plaknē, kas dod iespēju detektēt signālu no parauga virsmas slāņa, kas mazāks par 1nm
• Z detektora linearitāte ar 0,015% kļūdu

Precīza AFM detektēšana ar ‘’True Non-Contact’’ režīmu
• Industrijā vadošais Z-detektors ar frekvenču joslas platumu lielāku par 9 kHz, jeb Z-servo uzgaļa ātrums lielāks par 62 mm/sec.
• minimāls risks sabojāt vai modificēt paraugu mērījumu laikā.

Precīzi AFM topogrāfijas mērījumi ar ‘’True Sample Topography’’ režīmu
• Parauga virsmas topogrāfijas mērījumi ar industrijā vadošā zema trokšņa Z detektoru.
• Uzlabota sistēmas stabilitāte, izmantojot termiski saderīgus materiālus

NX lietošanas efektivitāte un ērtums
• patentēta sistēma vieglai uzgaļu maiņai ar ērti atveramu sāna konstrukciju, teicamu lāzera novietojumu un ar centrējošu paraugu galdiņa nostiprināšanu uz asīm.
• ātra un automatizēta paraugu novietošana un nostiprināšana, kas aizņem mazāk par 10 sekundēm